Suchergebnis

• MOVPE-Schichten aus III-V-Halbleitern auf (001)-Si-Substraten Tang, Guang-Ping Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Neue Sensoren für die biotechnologische Praxis Kullick, Thomas Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Oberflächenimpedanz epitaktisch aufgewachsener YBa 2 Cu 3 O 7-delta -Filme bei 87 GHz externer Bericht Orbach-Werbig, Susanne Wuppertal : Fachbereich Physik, Berg. Univ., Gesamthochsch. Wuppertal, 1994

• PECVD-Prozesse mittels Hohlkathodenglimmentladung Hellmich, Anke Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997

• Plasmadiagnostische und oberflächenanalytische Untersuchungen zum Mechanismus der Abscheidung reaktiv gesputterter TiN x-Schichten Roth, Roman Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996

• Polarisationabhängige Ramanspektren von Diamantschichten Moßbrucker, Jörg Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997

• Prozeßinduzierte mechanische Spannungen in TiSi 2 -Schichten während der Temperung in einem RTP-System Taddiken, Hans Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Quantitative Tiefenprofilanalyse mit der Elektronenstrahlmikrosonde Entwicklung der Technik und Untersuchungen zur Diffusion von Gallium in ZnSe, GaAs Ammann, Norbert Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Sodium resistant binder carbon for aluminium reduction cell cathodes Jurić, Drago Dragutin Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996

• Spektroskopische Ellipsometrie an III/V-Halbleiterstrukturen Iber, Hartmut Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996