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Titelaufnahme

    Titel
    Quantitative Tiefenprofilanalyse mit der Elektronenstrahlmikrosonde : Entwicklung der Technik und Untersuchungen zur Diffusion von Gallium in ZnSe, GaAs / Norbert Ammann
    VerfasserAmmann, Norbert
    ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1994
    Ausgabe
    Als Ms. gedr.
    UmfangIX, 100 S. : graph. Darst.
    HochschulschriftZugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
    Serie
    Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 8, Meß-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; 399
    SchlagwörterZinkselenid / Galliumarsenid / Dünne Schicht / Gallium / Diffusion / Elektronenstrahlmikroanalyse
    ISBN3-18-339908-3
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