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Autor / Beteiligte = Cygon, Manfred und Sammlung = ULB Düsseldorf
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Abscheidung Phosphordotierter SiO 2 -Schichten zur Passivierung von optoelektronisch-integrierten Empfängern
Riemenschneider, Rolf
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996
Drucksensoren für die Systemintegration in Silizium
Adams, Stefan
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995
MOVPE-Schichten aus III-V-Halbleitern auf (001)-Si-Substraten
Tang, Guang-Ping
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994
Optimierung von III-V-Halbleitern auf Si für einen optoelektronischen Empfänger
Bartels, Arne
Als Ms. gedr., Düseldorf : VDI-Verl., 1996
Spektroskopische Ellipsometrie an III/V-Halbleiterstrukturen
Iber, Hartmut
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996
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