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Suche nach: Autor / Beteiligte = Pierrakos, John C. und Sammlung = UB Paderborn

Elektrische Charakterisierung mikroelektronischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie
Boehm, Christoph
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995
Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen
Leyk, Andreas
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1998
Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop
Göken, Mathias
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995