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Titelaufnahme

Titel
Elektrische Charakterisierung mikroelektronischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie / Christoph Böhm
VerfasserBoehm, Christoph In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen In Wikipedia suchen nach Christoph Boehm
ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1995
Ausgabe
Als Ms. gedr.
UmfangX, 124 S. : Ill., graph. Darst.
HochschulschriftZugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1995
SerieFortschritt-Berichte VDI : Reihe 8, Meß-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; 524
SchlagwörterAnaloge integrierte Schaltung In Wikipedia suchen nach Analoge integrierte Schaltung / VLSI In Wikipedia suchen nach VLSI / Elektrische Eigenschaft In Wikipedia suchen nach Elektrische Eigenschaft / Testbarkeit In Wikipedia suchen nach Testbarkeit / Rasterkraftmikroskopie In Wikipedia suchen nach Rasterkraftmikroskopie / Fehlererkennung In Wikipedia suchen nach Fehlererkennung / Digitale integrierte Schaltung In Wikipedia suchen nach Digitale integrierte Schaltung / VLSI In Wikipedia suchen nach VLSI / Elektrische Eigenschaft In Wikipedia suchen nach Elektrische Eigenschaft / Testbarkeit In Wikipedia suchen nach Testbarkeit / Rasterkraftmikroskopie In Wikipedia suchen nach Rasterkraftmikroskopie / Fehlererkennung In Wikipedia suchen nach Fehlererkennung
ISBN3-18-352408-2
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