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Titelaufnahme

Titel
Entwicklung eines Hochfrequenz-Rasterkraftmikroskop-Testsystems für die Untersuchung von Hochfrequenzbauelementen und -schaltungen / Andreas Leyk
VerfasserLeyk, Andreas In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen In Wikipedia suchen nach Andreas Leyk
ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1998
Ausgabe
Als Ms. gedr.
UmfangXII, 153 S.: Ill., graph. Darst.
HochschulschriftZugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1998
SerieFortschritt-Berichte VDI : Reihe 8, Meß-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; 694
SchlagwörterElektronisches Bauelement In Wikipedia suchen nach Elektronisches Bauelement / Hochfrequenztechnik In Wikipedia suchen nach Hochfrequenztechnik / Testen In Wikipedia suchen nach Testen / Rasterkraftmikroskopie In Wikipedia suchen nach Rasterkraftmikroskopie / Hochfrequenzschaltung In Wikipedia suchen nach Hochfrequenzschaltung / Testen In Wikipedia suchen nach Testen / Rasterkraftmikroskopie In Wikipedia suchen nach Rasterkraftmikroskopie
ISBN3-18-369408-5
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