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Suche nach: Schlagwort = Testmustergenerierung und Sammlung = ULB Düsseldorf

Kostengünstige Testmethoden für Semi-Custom-ASICs
Büchner, Thomas
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996
Methoden zum automatischen Test von digitalen, analogen und Mixed-Signal-Schaltungen
Schmitz, Christian
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994