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Titelaufnahme

Titel
Kostengünstige Testmethoden für Semi-Custom-ASICs / Thomas Büchner
VerfasserBüchner, Thomas In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen In Wikipedia suchen nach Thomas Büchner
ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1996
Ausgabe
Als Ms. gedr.
UmfangXI, 117 S. : Ill., graph. Darst.
HochschulschriftZugl.: Stuttgart, Univ., Diss.
SerieFortschritt-Berichte VDI : Reihe 9, Elektronik ; 233
SchlagwörterKundenspezifische Schaltung In Wikipedia suchen nach Kundenspezifische Schaltung / Boundary scan In Wikipedia suchen nach Boundary scan / Testmustergenerierung In Wikipedia suchen nach Testmustergenerierung
ISBN3-18-323309-6
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