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Suche nach: Schlagwort = Rastertunnelmikroskopie und Sammlung = ULB Düsseldorf

Streulicht- und Rastermikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen
Kumpe, Ralf
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997
Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop
Göken, Mathias
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995
Zeitaufgelöste STM-Untersuchungen zu Adsorption und Wachstum auf Silicium
Andersohn, Lutz
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994