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Suche nach: Schlagwort = Optische Fläche und Sammlung = ULB Düsseldorf

Orts- und Frequenzraumverfahren zur quantitativen Analyse optischer Oberflächen
Kratz, Frank
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997
Streulicht- und Rastermikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen
Kumpe, Ralf
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997