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Suche nach: Autor / Beteiligte = Epictetus <Dissertationes 3,22> und Sammlung = UB Paderborn

Elektromagnetische Rückwirkung der Meßumgebung in der EMV-Meß- und Prüftechnik
Kunz, Siegbert
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994