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Titelaufnahme

    Titel
    Elektromagnetische Rückwirkung der Meßumgebung in der EMV-Meß- und Prüftechnik / Siegbert Kunz
    VerfasserKunz, Siegbert
    ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1994
    Ausgabe
    Als Ms. gedr.
    UmfangVII, 143 S. : Ill., graph. Darst.
    HochschulschriftZugl.: Karlsruhe, Univ., Diss.
    Serie
    Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 8, Meß-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; 403
    SchlagwörterElektromagnetische Verträglichkeit / Wellenleiter / Messplatz
    ISBN3-18-340308-0
    Links
    Nachweis
     hbz-Verbundkatalog
    Archiv METS (OAI-PMH)
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