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Titelaufnahme

    Titel
    Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen / Olaf Stern
    VerfasserStern, Olaf
    ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1996
    Ausgabe
    Als Ms. gedr.
    UmfangXIV, 160 S. : Ill., graph. Darst.
    HochschulschriftZugl.: Siegen, Univ., Diss.
    Serie
    Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 9 ; 240
    SchlagwörterLSI / Testbarkeit / Fehlermodell
    ISBN3-18-324009-2
    Links
    Nachweis
     hbz-Verbundkatalog
    Archiv METS (OAI-PMH)
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    Inhalt
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