zum Inhalt
Schnellsuche:
Detailsuche
|
Home
|
Sammlung
|
Impressum
|
Titel
Inhalt
Übersicht
Seite
Im Dokument suchen
Titelaufnahme
Titel
Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen / Olaf Stern
Verfasser
Stern, Olaf
Erschienen
Düsseldorf : VDI-Verl.,
1996
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Umfang
XIV, 160 S. : Ill., graph. Darst.
Hochschulschrift
Zugl.: Siegen, Univ., Diss.
Serie
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 9 ; 240
Schlagwörter
LSI
/
Testbarkeit
/
Fehlermodell
ISBN
3-18-324009-2
Links
Download
Effiziente Erfassung von realistischen Fehlern in hochintegrierten Schaltungen [0,56 mb]
Nachweis
hbz-Verbundkatalog
Verfügbarkeit
In meiner Bibliothek
Archiv
METS (OAI-PMH)
Inhalt
Inhalt des Werkes