Suchergebnis

• Spektroskopische Ellipsometrie an III/V-Halbleiterstrukturen Iber, Hartmut Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996

• Stabstirn-Trennschleifen von einkristallinem Silizium Hartmann, Matthias Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997

• Streulicht- und Rastermikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen Kumpe, Ralf Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997

• Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium Geier, Stephan Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996

• Transportphänomene ultradünner Silberschichten auf Silizium (111) Lüer, Thomas Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997

• Untersuchungen zu Filmbildung und Filmwachstum von Prepolymeren auf anorganischen Substraten Gesang, Thomas Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996

• Verfahren und Einrichtungen zur Bestimmung mechanischer Eigenschaften mikromechanischer Werkstoffe Zhang, Junming Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1994

• Eine vergleichende Untersuchung der physikalisch-chemischen Prozesse an der Grenzschicht direkt und anodisch verbundener Festkörper Mack, Stefan Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997

• Versagensverhalten von einkristallinem Silizium an scharfen Kerben Heinzelmann, Michael Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1995

• Versetzungen und Verspannungen bei stark fehlangepaßter Heteroepitaxie Mo, Shaobai Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997