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Titelaufnahme
Titel
Randzonenanalyse bearbeiteter Silizium-Oberflächen / Carsten Menz
Verfasser
Menz, Carsten
Erschienen
Düsseldorf : VDI-Verl.,
1997
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Umfang
X, 116 S. : Ill., graph. Darst.
Hochschulschrift
Zugl.: Hannover, Univ., Diss.
Serie
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 2, Fertigungstechnik ; 431
Serie
Berichte aus dem Institut für Fertigungstechnik und Spanende Werkzeugmaschinen, Universität Hannover - IFW-Produktionstechnik
Schlagwörter
Wafer
/
Silicium
/
Oberflächenschaden
/
Randschicht
ISBN
3-18-343102-5
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Randzonenanalyse bearbeiteter Silizium-Oberflächen [0,53 mb]
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