Zur Seitenansicht

Titelaufnahme

    Titel
    Statistical analysis of measurement errors
    VerfasserJaech, John L.
    ErschienenNew York [u.a.] : Wiley, 1985
    UmfangXXIII, 293 S.
    Serie
    Exxon monographs
    SchlagwörterSchätztheorie / Messfehler
    ISBN0-471-82731-2
    Links
    Nachweis
     hbz-Verbundkatalog
    Archiv METS (OAI-PMH)
    Download
    Inhalt
    Inhalt des Werkes