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Titelaufnahme

Titel
Untersuchung der lokalen und globalen Herstellgenauigkeit integrierter Halbleiterbauelemente / Eckhard Braß
VerfasserBraß, Eckhard In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen In Wikipedia suchen nach Eckhard Braß
ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1997
Ausgabe
Als Ms. gedr.
UmfangVIII, 127 S. : graph. Darst.
HochschulschriftZugl.: Dortmund, Univ., Diss., 1997
SerieFortschritt-Berichte VDI : Reihe 9, Elektronik ; 255
SchlagwörterMOS-FET In Wikipedia suchen nach MOS-FET / CMOS-Schaltung In Wikipedia suchen nach CMOS-Schaltung / Statistische Qualitätskontrolle In Wikipedia suchen nach Statistische Qualitätskontrolle
ISBN3-18-325509-X
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