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Titelaufnahme

    Titel
    Datenstrukturen und Algorithmen zu Testzwecken / Ralf Hahn
    VerfasserHahn, Ralf
    ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1995
    Ausgabe
    Als Ms. gedr.
    UmfangXII, 170 S. : graph. Darst.
    HochschulschriftZugl.: Diss.
    Serie
    Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 20, Rechnerunterstützte Verfahren ; 159
    SchlagwörterIntegrierte Schaltung / Fertigungsfehler / Fehlersimulation / Testmuster / Datenstruktur / Algorithmus
    ISBN3-18-315920-1
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     hbz-Verbundkatalog
    Archiv METS (OAI-PMH)
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    Inhalt
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