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Titel
Profilanalyse bei der Reflexionselektronenbeugung (RHEED): elastische und inelastische Streuung / Bert Müller
Verfasser
Müller, Bert
Erschienen
Düsseldorf : VDI-Verl.,
1994
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Umfang
VI, 64 S. : Ill., graph. Darst.
Serie
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 9 ; 197
Schlagwörter
Silicium
/
Molekularstrahlepitaxie
/
RHEED
ISBN
3-18-319709-X
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Profilanalyse bei der Reflexionselektronenbeugung RHEED elastische und inelastis [0,25 mb]
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