Zur Seitenansicht

Titelaufnahme

    Titel
    Profilanalyse bei der Reflexionselektronenbeugung (RHEED): elastische und inelastische Streuung / Bert Müller
    VerfasserMüller, Bert
    ErschienenDüsseldorf : VDI-Verl., 1994
    Ausgabe
    Als Ms. gedr.
    UmfangVI, 64 S. : Ill., graph. Darst.
    Serie
    Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 9 ; 197
    SchlagwörterSilicium / Molekularstrahlepitaxie / RHEED
    ISBN3-18-319709-X
    Links
    Nachweis
     hbz-Verbundkatalog
    Archiv METS (OAI-PMH)
    Download
    Inhalt
    Inhalt des Werkes