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Titelaufnahme
Titel
Der Einfluß thermischer Spannungen auf die Defektstruktur in heteroepitaktischen Halbleiterfilmen / Bernd Roos
Verfasser
Roos, Bernd
Erschienen
Düsseldorf : VDI-Verl.,
1994
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Umfang
127 S. : Ill., graph. Darst.
Hochschulschrift
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss.
Serie
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 5 ; 358
Schlagwörter
Halbleiterschicht
/
Heteroepitaxie
/
Silicium
/
Substrat <Mikroelektronik>
/
Grenzfläche
/
Mechanische Spannung
ISBN
3-18-335805-0
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Der Einfluß thermischer Spannungen auf die Defektstruktur in heteroepitaktischen [0,42 mb]
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